電子元器件的可靠性基礎(chǔ)試驗
概 述
可靠性試驗的范圍非常廣泛。從廣義上說，凡是與可靠性有關(guān)的試驗都可以稱為可 靠性試驗。也可以說，為評價、分析電子元器件的可靠性而進(jìn)行的試驗稱為電子元器件的 可靠性試驗。可靠性試驗的目的是考核電子元器件在運(yùn)輸、使用等情況下的可靠性。試 驗條件必須是模擬電子元器件在運(yùn)輸、使用時的客觀條件，它就是對受試樣品施加一定的 應(yīng)力，諸如電氣應(yīng)力、氣候應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力或其綜合，在這些應(yīng)力的作用下，受試樣品反映 出其性能是否穩(wěn)定，其結(jié)構(gòu)狀態(tài)是否完整或是否有變形，從而判別其產(chǎn)品是否失效。第2 章介紹的電子元器件常用的可靠性試驗是為完成特定的試驗?zāi)康亩M(jìn)行的一整套試驗。 當(dāng)時我們的重點在于介紹這一整套試驗，對于這套試驗中的各個具體試驗沒有詳細(xì)介紹。
組成各種可靠性試驗的最基本的試驗叫做可靠性基礎(chǔ)試驗，如高溫試驗，振動掃頻試 驗等，它們是獨(dú)立的試驗，它們的不同組合便構(gòu)成不同的可靠性試驗。